在当今电气设备和电子产品日益增多的社会里，电磁兼容性（EMC）的测试变得尤为重要，对于小型电子设备而言，一种常用且有效的测试方法便是耦合/去耦网络（CDN）法，这种方法在辐射发射测量中扮演着不可或缺的角色，不仅因其可以为生产者节省时间和成本，也因为它在设计初期能提供快速反馈，从而优化产品设计。

CDN法的应用主要基于其能够在较宽的频率范围内（30MHz至300MHz）有效测量电气照明设备等小型受试物的共模电流引起的辐射发射，这种测试方式是CISPR 15标准所规定的替代方法之一，专门用于评估小型电子设备如灯具的电磁干扰特性。

CDN法之所以受到青睐，关键在于它对测试环境的低要求以及操作的简便性，传统的天线法需要开阔的测试场地或电波暗室，而CDN法可以在较为普通的室内环境中进行，这在一定程度上减少了测试的成本和复杂度，CDN通过提供一个稳定的共模阻抗，使得从共模电压推导出辐射发射成为可能，这对于初步设计和产品改进阶段的工程师来说，是一个宝贵的工具。

CDN法的原理建立在对小型EUT的分析之上，研究表明，对于这些设备，引线上由共模电流引起的辐射往往远大于设备本体表面的直接辐射，通过精确测量这些电流，并利用CDN提供的稳定共模阻抗，可以有效地预测和控制设备的辐射发射水平。

尽管CDN法带来了诸多便利，但它并非没有局限性，由于CDN法无法完全模拟实际使用环境中的所有变量，例如设备的确切放置位置和方向，它不能完全取代传统的天线法，对于高精准度要求的测试，传统方法仍然不可或缺。

在选择适合的CDN法测试配置时，工程师需要考虑包括频率范围、所需精度、设备类型及测试环境等多种因素，市面上提供了多种不同类型的CDN装置，如CDNE M2和CDNE M3等，它们分别适用于不同的测试需求。

CDN法在电子产品的设计与测试中提供了一个高效的工具，尤其适用于早期开发阶段，它不仅有助于控制成本，还能在短时间内提供关于产品设计潜在问题的重要信息，为了确保产品能够在实际使用中达到预期的EMC性能标准，CDN法应与更全面的传统测试方法结合使用，以确保最终产品的质量与可靠性。